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RF测试探针与线缆组件

作者: Fiona
发布于: 2026-03-03 15:16
阅读: 8
来源: 泰丰瑞电子

 

 

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RF测试探针与线缆组件

 

 

 

 

应用领域介绍

1

半导体CP测试

晶圆检测中,射频探针用于连接测试设备与晶圆上的射频芯片,精准测量其射频性能参数,如功率、频率、阻抗等。它通过探针与芯片焊盘接触,在不损伤晶圆的前提下实现高频信号传输,确保射频芯片在封装前性能达标,是半导体晶圆级射频测试的关键工具。

2

射频滤波器芯片测试

使用射频探针测试滤波器时,将其精准连接到滤波器的测试点,能有效传输高频信号。它可测量滤波器的各项射频参数,如频率响应、插入损耗、回波损耗等。凭借其高灵敏度和低干扰特性,能快速获取准确数据,助力评估滤波器性能,保障其在射频系统中的稳定运行。

3

高校和高速芯片实验室

高校和高速芯片实验室研发高速芯片,射频探针是重要测试工具。它能精准连接测试设备与芯片,助力师生和研发人员开展半导体研究,确保芯片性能达标,为科研项目提供关键支撑 。

4

高速PCB测

射频探针在高速 PCB 测试中,能精准连接到 PCB 的测试点,高效传输高频信号。测量高速 PCB 的TDR,插入损耗等射频性能。其高带宽与低损耗特性,让测试结果准确可靠,帮助工程师及时发现问题、优化设计,保障高速 PCB 的稳定运行

 

产品介绍

1

射频探针

(1)GSG,SG,GS探针

  探针针尖有GSG,SG,GS等配置。

  可提供 26-110GHz探针。

  目前已经生产的探针间距从40 to 1250µm,可根据客户要求提供其他间距 。

  独有的尖端设计和精细调整的几何形状不但减少了信号损失和寄生参数,也更加方便客户在扎针时的延迟位置确定,确保了测试结果的精确性和可靠性。

GSG,SG,GS探针

 

 

(2)GSSG,GSGSG探针

  探针针尖有GSSG,GSGSG等配置。

  可提供 26-110GHz探针。

  目前已经生产的探针间距从40 to 500µm,可根据客户要求提供其他间距 

  具有良好的针尖可见性和最低的损耗,用于晶圆级精度测量。

  降低了下一代商用射频和毫米波硅器件和集成电路的测试成本。使得硅器件获得准确、可重复的测量结果。

GSSG,GSGSG探针

 

 

(3)可调间距探针

  探针针尖有GSSG, GSGGSG等配置。探卡用射频探针  。

  探卡作为集成电路测试的核心部件,搭载

  可提供 26-67GHz探针。

  探针间距从100 to 1250µm,具有极好的可调性,可以快速满足客户不同的测试需求 。

 可调间距探针应用在PCB阻抗测试上,它大大降低PCB板的测试成本。使得PCB板获得准确、可重复的测量结果。

可调间距探针

 

 

(4)探卡用射频探针

 探卡作为集成电路测试的核心部件,搭载射频探针后,可实现对射频芯片、微波组件等器件的电气性能检测.。 

 低损耗、高隔离的探针结构,支持S参数、阻抗匹配等测试, 

 射频探针的可定制化设计,适配不同射频电路的测试需求,确保高频信号在测试过程中无失真传输,为射频器件的性能验证提供可靠支撑。 

 适用于5G芯片、雷达模块等高频PCB或7封装测试场景。

探卡用射频探针

 

 

2

射频探针特点

3

26G射频探针

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

4

40G射频探针

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

5

50G射频探针

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

6

67G射频探针

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

7

110G射频探针

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

8

功率探针

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

9

GSSG差分探针

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

10

差分可调探针

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

11

小扎点射频探针

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

12

卡片式射频探针

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

定制探针

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

探卡用射频探针

 探卡作为集成电路测试的核心部件,搭载射频探针后,可实现对射频芯片、微波组件等器件的电气性能检测。其通过低损耗、高隔离的探针结构,支持S参数、阻抗匹配等测试,尤其适用于5G芯片、雷达模块等高频PCB或封装测试场景。

 

  射频探针在探卡中的集成,还能与网络分析仪等设备协同,实现多端口并行测试,提升高频器件的量产测试效率,同时凭借探针的可定制化设计,适配不同射频电路的测试需求,确保高频信号在测试过程中无失真传输,为射频器件的性能验证提供可靠支撑。

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

射频通用校准片

料号:GSGD100-250描述:GSG校准片,100-250um 

 ⚫ 频率范围: DC-110GHz 

 ⚫ 中心距:50-250μm 

 ⚫ 外形尺寸:15x20mm 

 ⚫ 厚度:635μm 

 ⚫ 触点大小:50 x 50μm 

 ⚫ 校准片支持SOLT 校准、TRL 校准、SOLR校准

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

一张校准片中涵盖平行、弯折等多种校准结构,同时满足多端口使用

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 校准后的open和short

 

校平片 

料号:CB20001500P0 

描述:校平片,20x15mm 

外形尺寸:15x20mm 

 厚度:635μm

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

微波产品| 50G线缆组件

⚫ 料号:1666-5015 

线缆描述:50GHzCable,2.4(f) Straight, 2.4(m) Straight,1.2m 

 

 线缆特性应用场景:连接50GHz探针和VNA设备

适用探针类型:45°连接器探针 

线缆探针端接头:2.4mm公头 

线缆VNA设备端接头:2.4mm母头 

线缆长度:1.2m 

典型IL值: 4.49dB@DC-50GHz 

典型VSWR值:1.30@DC-50GHz

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

微波产品| 67G线缆组件

 

 料号:1666-6726 

线缆描述:67GHzCable,1.85(f) Straight, 1.85(m) Straight,1.2m

 

 线缆特性应用场景:

连接67GHz探针和VNA设备 

适用探针类型: 45°连接器探针 

线缆探针端接头:1.85mm公头 

线缆VNA设备端接头:1.85mm母头 

线缆长度:1.2m 

典型IL值: 6.48dB@DC-67GHz 

典型VSWR值:1.35@DC-67GHz

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

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