18μm绝缘涂层钯铜键合线TBGA封装开发与验证实验
一、键合验证样品与结果概述 本次验证确定适用于Tape Ball Grid Array(TBGA)封装的最佳引线键合工艺和涂层材料配方,这标志着我们首次尝试使用18微米的钯铜(Pd Cu)线来实现47微米键合间距(Bond pad Pitch, BPP)的大规模生产能力。图1验证样品示意图 本研究涉及4个关键因素的表征和优化:键合劈刀、等离子体清洗、涂层键合线的涂层和引线键合机的键合参数。 通过一系列的评估和DOES,根据引线键合的完整和可键合性,在每个因素上建立了优化的参数。所有优化的设置后来都被集成并进行了 HVM (high volume manufacturing)运行。从 HVM验证中,所有引线键合质量要求都得到了满足。引线键合MTBA超过2小时,并成功通过了工业级封装可靠性应力测试,没有电气故障。 二、绝缘涂层键合线产品介绍 1.由于键合的灵活性,无需担心线短路,绝缘线在焊线布局设计中提供了完全的灵活性,这导致芯片尺寸减小,因为焊盘不再需要布局芯片的外围边缘,绝缘引线键合工艺的阵列引线键合还提供了基板和引线框设计的灵活性,这反过来又实现了基板/引线...